掃描電子顯微鏡 半導體陶瓷電容截面分析-ZEM系列臺式掃描電鏡，融合了眾多創(chuàng)新技術，不僅成像效果，而且便于攜帶，能夠滿足多樣化的應用需求。在國內(nèi)外，ZEM系列以其定位和多樣化型號，已在成像清晰度、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達到了標準。

該系列產(chǎn)品以其高度的集成性和多樣化的配置選項而著稱，用戶界面簡潔，易于學習和操作，即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個工作流程，從樣品準備、參數(shù)調(diào)整到圖像分析，提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫(yī)藥和半導體等多個領域均顯示出了其強大的分析能力，助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其性價比，ZEM系列已成為眾多高校、研究機構(gòu)和企業(yè)重點選擇的臺式掃描電鏡。

• 產(chǎn)品參數(shù)：

• 產(chǎn)品特色：

▲ 真空分隔技術 ：采用獨特真空設計，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時間小于1min。

▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數(shù)達到36萬倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導電樣品在不噴金的情況下進行觀察。

▲ 倉內(nèi)攝像頭：樣品倉內(nèi)置高清攝像頭，原位實驗時可實時監(jiān)測樣品原位變化。

• 可拓展原位電鏡附件列表：

SEM芯片加熱臺，SEM加熱爐，SEM電池臺，SEM液體電化學臺，SEM氣體臺，SEM拉伸臺，SEM-TEC冷臺，SEM液氮冷臺，SEM電學探針臺，SEM通光等掃描電鏡原位測試系統(tǒng) 。

掃描電子顯微鏡 半導體陶瓷電容截面分析