掃描電鏡原位拉伸分析儀 硅礦粉樣高倍檢測(cè)-ZEM系列臺(tái)式掃描電鏡，融合了眾多創(chuàng)新技術(shù)，不僅成像效果，而且便于攜帶，能夠滿足多樣化的應(yīng)用需求。在國內(nèi)外，ZEM系列以其定位和多樣化型號(hào)，已在成像清晰度、用戶友好性以及系統(tǒng)整合性等方面達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)。

該系列產(chǎn)品以其高度的集成性和多樣化的配置選項(xiàng)而著稱，用戶界面簡(jiǎn)潔，易于學(xué)習(xí)和操作，即使是非專業(yè)用戶也能迅速掌握。配備的軟件支持整個(gè)工作流程，從樣品準(zhǔn)備、參數(shù)調(diào)整到圖像分析，提供了一體化的高效解決方案。ZEM系列在新材料、新能源、生物醫(yī)藥和半導(dǎo)體等多個(gè)領(lǐng)域均顯示出了其強(qiáng)大的分析能力，助力科研工作者深入探索微觀世界的神秘。因其性價(jià)比，ZEM系列已成為眾多高校、研究機(jī)構(gòu)和企業(yè)重點(diǎn)選擇的臺(tái)式掃描電鏡。

• 產(chǎn)品參數(shù)：

• 產(chǎn)品特色：

▲ 真空分隔技術(shù) ：采用獨(dú)特真空設(shè)計(jì)，電子槍和樣品倉真空分離，換樣時(shí)間小于1min。

▲ 超大樣品倉：提供了更大的樣品存儲(chǔ)空間，方便用戶操作。

▲ 超高分辨率：極限放大倍數(shù)達(dá)到36萬倍，分辨率4nm@20kV。

▲ 選配減速模式：允許弱導(dǎo)電樣品在不噴金的情況下進(jìn)行觀察。

▲ 倉內(nèi)攝像頭：樣品倉內(nèi)置高清攝像頭，原位實(shí)驗(yàn)時(shí)可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)樣品原位變化。

• 可拓展原位電鏡附件列表：

SEM芯片加熱臺(tái)，SEM加熱爐，SEM電池臺(tái)，SEM液體電化學(xué)臺(tái)，SEM氣體臺(tái)，SEM拉伸臺(tái)，SEM-TEC冷臺(tái)，SEM液氮冷臺(tái)，SEM電學(xué)探針臺(tái)，SEM通光等掃描電鏡原位測(cè)試系統(tǒng) 。

掃描電鏡原位拉伸分析儀 硅礦粉樣高倍檢測(cè)