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您的位置:首頁  -  產(chǎn)品中心  -  X射線衍射儀  -  XRD衍射儀  -  FRINGE XRD衍射儀XRD陶瓷金屬礦物檢測 配置靈活 操作簡便

XRD陶瓷金屬礦物檢測 配置靈活 操作簡便

XRD陶瓷金屬礦物檢測 配置靈活 操作簡便--在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時(shí),在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象,經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測器上,最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。

  • 產(chǎn)品型號:FRINGE XRD衍射儀
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2026-01-03
  • 訪  問  量:74
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產(chǎn)品詳情

XRD陶瓷金屬礦物檢測 配置靈活 操作簡便--X射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時(shí),在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象,經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達(dá)X射線探測器上,最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。


XRD物相分析儀 陶瓷金屬檢測 穩(wěn)定耐用是公司自主研發(fā)的一款多功能粉末衍射分析儀器,其融合XRD和計(jì)算機(jī)軟件等多項(xiàng)技術(shù),可快速對粉末、塊狀或薄膜等形態(tài)的樣品進(jìn)行主要物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析及結(jié)晶度測定,具有操作簡便、精度高、檢測速度快等特點(diǎn),為材料研究、生物醫(yī)藥、礦物、塑料制品、半導(dǎo)體等眾多領(lǐng)域提供高精度的分析。

X射線衍射(XRD)是一種理想的、非破壞性的、可應(yīng)用于大部分類型樣品的無損分析方法!
X射線衍射可用于晶相的確定,含量檢測以及原子結(jié)構(gòu)的測定。樣品用量少,消除了可能產(chǎn)生的樣品物相被破壞和性質(zhì)改變的風(fēng)險(xiǎn)。
在實(shí)際應(yīng)用中,對除X射線衍射外的其他方法,復(fù)雜組分樣品的測量一直是一個(gè)艱巨的挑戰(zhàn)。對于X射線衍射,衍射圖譜中所有的細(xì)節(jié)信息都是有價(jià)值的,且會被考慮到,并終使樣品表征充分。

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儀器采用*技術(shù)制造,測角儀測角準(zhǔn)確度與精確度均達(dá)到*水平。光源與探測器能長時(shí)間穩(wěn)定工作,保證衍射峰位、峰形和強(qiáng)度測量準(zhǔn)確、精確。進(jìn)行物相結(jié)構(gòu)分析,包括:物相含量、晶粒大小判斷、結(jié)晶度、奧氏體含量、晶胞測定、二類應(yīng)力計(jì)算、衍射線條指標(biāo)化、物相結(jié)構(gòu)等分析;薄膜材料分析,小角粒徑分析等。儀器包括高穩(wěn)定性X射線發(fā)生器、高精密測角儀、封閉正比探測器(或SDD探測器、或一維高速半導(dǎo)體陣列探測器)、數(shù)據(jù)處理軟件、相關(guān)應(yīng)用軟件等。

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儀器特點(diǎn)
長壽命X射線管:金屬陶瓷X射線管,具有散熱好、運(yùn)行功率高(40kV×40mA)、使用壽命長特點(diǎn)
高精密測角儀:衍射角驅(qū)動采用伺服電機(jī)驅(qū)動+光學(xué)編碼控制技術(shù),具有定位準(zhǔn)確、測量精度高
測角儀內(nèi)藏式設(shè)計(jì),使儀器表現(xiàn)更整潔、美觀、大方,在衍射角度測量范圍內(nèi),衍射角度線性度小于0.02°
拓寬衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域的附件齊全:高溫、低溫、多功能等衍射儀各種附件安裝實(shí)現(xiàn)“即插即用",軟件自動識別控制技術(shù),方便操作人員對儀器的使用
射線防護(hù)安全可靠:X射線散射線防護(hù)裝置更安全可靠,樣品測量時(shí)射線防護(hù)門自動禁止打開,雙重防護(hù),任何情況下都能避免操作人員受到散射線輻射

應(yīng)用領(lǐng)域
未知樣品中物相鑒定
混合樣品中已知相定量分析
晶體結(jié)構(gòu)解析(Rievtveld分析)
非常規(guī)條件下晶體變化(高低溫)
薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度、電荷密度
金屬材料織構(gòu)、應(yīng)力分析

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射線衍射(XRD)分析儀的技術(shù)規(guī)格

XRD分辨率0.2 2? FWHM
XRD范圍5–55° 2?
探測器類型1024 × 256像素;2維Peltier致冷CCD
樣品顆粒大小< 150 μm的碾碎礦石(100目篩,150 μm)
樣品量約15 mg
X射線管靶材鈷或銅(鈷為標(biāo)準(zhǔn)配置)
X射線管電壓30 kV
X射線管功率10 W
數(shù)據(jù)存儲240 GB,堅(jiān)固耐用的內(nèi)部硬盤驅(qū)動器
無線連通性802.11 b/g,從網(wǎng)絡(luò)瀏覽器進(jìn)行遙控
操作溫度–10°C ~ 35°C
重量12.5 kg
尺寸30 cm × 17 cm × 47 cm
電源要求普通的AC電源(無冷卻系統(tǒng))



























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