鍍鋅層測厚儀技術(shù)推薦鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：

光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005

利用金相顯微鏡原理，對鍍層厚度進行放大，以便準確的觀測及測量。該方法需要對樣品進行破壞性分割，對橫切面進行放大測量。

、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005

庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005

利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解限定面積的覆蓋層，電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質(zhì)上溶解，經(jīng)過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同，被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。用恒定電流密度溶解時，可由試驗開始到試驗終止的時間計算；用非恒定電流密度溶解時，由累積所耗電量計算，累積所耗電量由電量計累計顯示。

而X-ray法（X射線法）鍍鋅層測厚儀是目前常用的一種無損檢測方案，該方法的應(yīng)用優(yōu)勢為：

X熒光射線（XRF）測厚儀器特點 

1、鍍層分析快速、無損，對樣品無需任何處理。一般測試一個點只需要數(shù)10秒~3分鐘，分析高。

    X熒光分析儀鍍鋅層測厚儀是光物理測量，其對測試樣品不會產(chǎn)生任何的物理、化學變化，因此，其屬于無損測量。同時對測試的樣品不需要任何處理，分析速度更加快捷。

2、可測試超薄鍍層，如：在測試鍍金產(chǎn)品時，可測試0.01米的鍍層厚度，這是其他測厚設(shè)備無法達到的。

     X熒光通過射線的方式來檢測鍍層的厚度，因此，其對樣品的表面物質(zhì)測試為靈敏，因此，其非常適合測試超薄鍍層，也是目前超薄鍍層常用的測量方法。

3、可測試多鍍層，分析遠遠高于其他測量方法。

X射線具有一定的穿透能力，因此，在測試鍍層時，它可以穿透多層鍍層，通過每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線計算其厚度，并可分析其鍍層的組成。

4、可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測厚設(shè)備不能做到的。   

5、對于樣品可進行連續(xù)多點測量，適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對樣品的復(fù)雜面進行測量。

    由于X熒光的無損分析方法，同時儀器高度的自動化控制技術(shù)，保證測試中可以進行連續(xù)多點測量，不但提高測試效率，同時可以分析測試樣的厚度分布情況。

6、對分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別，即，每層樣品元素有明顯的差別。

     由于X熒光是通過特征X射線，對被測樣品進行厚度分析的，因此每層鍍層的材料應(yīng)有明顯的區(qū)別。

7、不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過30微米。根據(jù)各種元素的能量不同，測量范圍都不相同,如：

  原子序25~40，約0.01~30um原子序41~51，約0.02~70um,但是陶瓷上的涂層因為密度相對普通金屬電鍍工藝,密度會小,所以可以測試更厚,比如未燒結(jié)的MoMn涂層可以測試150微米以上.   

8、可以對極小樣品進行測試，例如：螺絲、電路板焊盤、接插件的插針等?？梢詫射線照射在樣品的光斑調(diào)到很小的地步（可以達到微米級，因此，超小樣品的測試非常容易。

9、鍍鋅層測厚儀屬于對比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標樣，雖然有FP法的測試軟件，但在精準測試中，一定需要標準樣品進行校對，因此，企業(yè)應(yīng)用中采用標樣校對的方法是常見的。

10、針對不同的鍍層測試對象，可選擇不同結(jié)構(gòu)的X熒光分析儀器。例如：上照射和下照射的設(shè)備；探測器分為正比計數(shù)器和半導(dǎo)體探測器的等，他們都有各自的優(yōu)缺點。

2.

鍍鋅層測厚儀的特點:

3.1 鍍鋅層測厚儀Think800A是專門針對鍍層厚度測量、鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求，特設(shè)計的一款產(chǎn)品；

3.2 采用上照式結(jié)構(gòu)，以滿足不規(guī)則表面樣品的測試要求；

3.3 采用美國型的Si-pin探測器，高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準；

3.4 采用高度定位激光，可自動定位測試高度，以滿足不同規(guī)格樣品的鍍層測試。同時定位激光定位光斑，以確保測試點與光斑對齊；

3.5 高移動平臺可定位測試點，重復(fù)定位小于0.005mm；

3.6 內(nèi)置φ0.1mm的小孔準直器，可以滿足微小測試點的鍍層測試；

3.7 多重防輻射泄露設(shè)計，具有良好的射線屏蔽作用； 

3.8 內(nèi)置高移動平臺，通過測試軟件可視化操作：鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點；

3.9 采用網(wǎng)口傳輸數(shù)據(jù)，數(shù)據(jù)傳輸穩(wěn)定且快。